Medidas con el LCR de precisión Keysight 4285A
Realizamos medidas con el analizador LCR de precisión Keysight 4285A, un instrumento preciso, confiable y de alta velocidad para medir componentes y materiales. Para pruebas exigentes de componentes de RF, ofrece un rango de frecuencia de prueba de 75 kHz a 30 MHz. En investigación y desarrollo, producción, control de calidad o inspección entrante, el 4285A cubre los requisitos de medición y prueba. También caracterizamos materiales.
Con un instrumento LCR se determinan con precisión resistencias inductivas, capacitivas y óhmicas en poco tiempo, incluidas resistencias de CA y ángulos de fase, o la calidad de los componentes. Una comparación simple de valores GOOD/BAD es posible tanto con un puente de medición LCR estacionario como con medidores LCR portátiles.
Medición de componentes pasivos con velocidad y alta precisión
El medidor LCR 4285A mide y evalúa componentes pasivos con alta exactitud y velocidad. Las medidas incluyen los parámetros primarios y secundarios para probar inductancia, capacitancia, resistencia, factor de calidad y factor de pérdida.
- Frecuencias de prueba de 75kHz a 30MHz, para analizar el componente pasivo a distintas frecuencias.
- Exactitud básica de 0,05%, con resultados estables y confiables.
- Velocidad de medición de 10 ms, que aumenta la productividad con máquinas automatizadas.
Sistemas de escaneo para pruebas de impedancia
Los fabricantes de componentes necesitan mayor productividad y rendimiento para ofrecer productos de menor costo, con entrega más rápida y mayor confiabilidad. Por eso la mayoría requiere pruebas de impedancia con un escáner, que mejora la productividad y el control de calidad. Medir con escáner es distinto a medir con accesorios de prueba comunes: hay que reducir los errores de medición por la impedancia residual del cable de extensión y del escáner. Se adoptan sistemas con un medidor LCR de baja frecuencia (LF) y un analizador de impedancia LF con escáner, y se resuelven los problemas de impedancia residual que pueden aparecer. Hay ejemplos reales, como la evaluación de características de temperatura y la medición de resistencia de aislamiento de componentes electrónicos.
Revisión de las especificaciones requeridas
Un sistema de escaneo permite que un instrumento mida muchos dispositivos bajo prueba (DUT), cambiando de uno a otro. Para diseñarlo se elige la configuración del escáner y del cable, y para ello se aclaran los requisitos de medición: precisión, impedancia del dispositivo bajo prueba, frecuencia de prueba y cantidad de canales del escáner. La precisión requerida determina la impedancia residual máxima y la capacitancia parásita permitidas. El valor de medición y la frecuencia de prueba determinan la configuración del cable. El número de canales determina el tipo de escáner.
Selección de la configuración de cables
La configuración del cable depende de la impedancia a medir. Hay dos opciones: el par de cuatro terminales (4TP) y el blindado de dos terminales (2T).
- 4TP logra la mayor precisión en amplios rangos de impedancia y frecuencia, pero el costo del hardware aumenta porque requiere muchos cables y conmutadores por canal.
- El blindado 2T se puede usar si la impedancia del dispositivo bajo prueba es superior a 100 ohmios y la frecuencia de medición es superior a 100 kHz. Permite el máximo de canales a menor costo del sistema.